Jagiellonian University Repository

Zastosowanie metrologiczne zimnych atomów pułapkowanych optycznie

Zastosowanie metrologiczne zimnych atomów pułapkowanych ...

Bibliographic description

Files in this item

This item appears in the following Collection(s)

Udzielam licencji. Uznanie autorstwa 3.0 Polska Except where otherwise noted, this item's license is described as Udzielam licencji. Uznanie autorstwa 3.0 Polska