Simple view

Full metadata view

Authors

Statistics

Micro- and macroscopic modeling of sputter depth profiling

2016
journal article
article
10.1021/acs.jpcc.6b09228
Journal
The Journal of Physical Chemistry. C
35
Author
Maciążek Dawid

Paruch Robert J.

Postawa Zbigniew

Garrison Barbara J.
Volume
120
Number
44
Pages
25473-25480
ISSN
1932-7447
eISSN
1932-7455
Language
English
Journal language
English
Affiliation
Wydział Fizyki, Astronomii i Informatyki Stosowanej : Instytut Fizyki im. Mariana Smoluchowskiego
Scopus© citations
7
dc.affiliationWydział Fizyki, Astronomii i Informatyki Stosowanej : Instytut Fizyki im. Mariana Smoluchowskiegopl
dc.contributor.authorMaciążek, Dawid - 188018 pl
dc.contributor.authorParuch, Robert J.pl
dc.contributor.authorPostawa, Zbigniew - 100132 pl
dc.contributor.authorGarrison, Barbara J.pl
dc.date.accessioned2017-02-07T13:11:25Z
dc.date.available2017-02-07T13:11:25Z
dc.date.issued2016pl
dc.description.number44pl
dc.description.physical25473-25480pl
dc.description.volume120pl
dc.identifier.doi10.1021/acs.jpcc.6b09228pl
dc.identifier.eissn1932-7455pl
dc.identifier.issn1932-7447pl
dc.identifier.urihttp://ruj.uj.edu.pl/xmlui/handle/item/37179
dc.languageengpl
dc.language.containerengpl
dc.rightsDodaję tylko opis bibliograficzny*
dc.rights.licenceBez licencji otwartego dostępu
dc.rights.uri*
dc.subtypeArticlepl
dc.titleMicro- and macroscopic modeling of sputter depth profilingpl
dc.title.journalThe Journal of Physical Chemistry. Cpl
dc.typeJournalArticlepl
dspace.entity.typePublication
dc.affiliationpl
Wydział Fizyki, Astronomii i Informatyki Stosowanej : Instytut Fizyki im. Mariana Smoluchowskiego
dc.contributor.authorpl
Maciążek, Dawid - 188018
dc.contributor.authorpl
Paruch, Robert J.
dc.contributor.authorpl
Postawa, Zbigniew - 100132
dc.contributor.authorpl
Garrison, Barbara J.
dc.date.accessioned
2017-02-07T13:11:25Z
dc.date.available
2017-02-07T13:11:25Z
dc.date.issuedpl
2016
dc.description.numberpl
44
dc.description.physicalpl
25473-25480
dc.description.volumepl
120
dc.identifier.doipl
10.1021/acs.jpcc.6b09228
dc.identifier.eissnpl
1932-7455
dc.identifier.issnpl
1932-7447
dc.identifier.uri
http://ruj.uj.edu.pl/xmlui/handle/item/37179
dc.languagepl
eng
dc.language.containerpl
eng
dc.rights*
Dodaję tylko opis bibliograficzny
dc.rights.licence
Bez licencji otwartego dostępu
dc.rights.uri*
dc.subtypepl
Article
dc.titlepl
Micro- and macroscopic modeling of sputter depth profiling
dc.title.journalpl
The Journal of Physical Chemistry. C
dc.typepl
JournalArticle
dspace.entity.type
Publication
Affiliations
Wydział Fizyki, Astronomii i Informatyki Stosowanej
Maciążek, Dawid
Postawa, Zbigniew
No affiliation
Paruch, Robert J.
Garrison, Barbara J.

* The migration of download and view statistics prior to the date of April 8, 2024 is in progress.

Views
1
Views per month
Views per city
Krakow
1

No access

No Thumbnail Available
Collections
Research publications