New approach in forensic studies of trace evidences
author:
Szynkowska Małgorzata I., Osingłowska Katarzyna, Pawlaczyk Aleksandra, Palińska Katarzyna, Marcinek Marta, Rogowski Jacek, Czubak Andrzej, Parczewski Andrzej
journal title:
Przemysł Chemiczny
volume:
92
issue:
6
date of publication
:
2013
pages:
1125-1133
ISSN:
0033-2496
language:
Polish
journal language:
Polish
abstract in Polish:
Przedstawiono możliwości wykorzystania nowoczesnych technik analitycznych ToF-SIMS (time-of-flight secondary ion mass spectrometry) i LA-ICP-ToF-MS (inductively coupled plasma time-of-flight mass spectrometry with laser ablation) w rozwiązywaniu aktualnych problemów z zakresu chemii sądowej. Przedstawiono przykładowe wyniki badań otrzymanych za pomocą metody ToF-SIMS, dotyczących m.in. analizy zanieczyszczeń znajdujących się na odcisku palca, które naturalnie na nim nie występują, natomiast mogą mieć związek z miejscem zdarzenia. Do badanych zanieczyszczeń należały: amfetamina (AF), metylenodioksymetamfetamina (MDMA, ecstasy) oraz cząstki powystrzałowe (GSR). Za pomocą tej techniki dokonano również próby określenia kolejności powstawania podpisów względem siebie. Metodę LA-ICP-ToF-MS zastosowano do bada-nia czarnych tonerów w postaci tabletek oraz wydruków, materiałów pisarskich (past długopisowych), podłoży papierowych, cząstek GSR oraz ludzkich kości. Na podstawie otrzymanych wyników pokazano duże możliwości wykorzystania wymienionych technik w badaniach kryminalistycznych.