Using classification for cost reduction of applying mutation testing

2017
book section
conference proceedings
dc.affiliationWydział Fizyki, Astronomii i Informatyki Stosowanej : Zakład Projektowania i Grafiki Komputerowejpl
dc.conference2017 Federated Conference on Computer Science and Information Systemspl
dc.conference.cityPraga
dc.conference.countryCzechy
dc.conference.datefinish2017-09-06
dc.conference.datestart2017-09-03
dc.conference.indexscopustrue
dc.conference.indexwostrue
dc.contributor.authorStrug, Joannapl
dc.contributor.authorStrug, Barbara - 100344 pl
dc.contributor.editorGanzha, Mariapl
dc.contributor.editorMaciaszek, Leszekpl
dc.contributor.editorPaprzycki, Marcinpl
dc.date.accessioned2018-03-27T08:33:40Z
dc.date.available2018-03-27T08:33:40Z
dc.date.issued2017pl
dc.date.openaccess0
dc.description.accesstimew momencie opublikowania
dc.description.conftypeinternationalpl
dc.description.physical99-108pl
dc.description.publication0,7pl
dc.description.seriesAnnals of Computer Science and Information Systems, e
dc.description.seriesnumberVol. 11
dc.description.versionostateczna wersja wydawcy
dc.identifier.doi10.15439/2017F215pl
dc.identifier.eisbn978-83-946253-7-5pl
dc.identifier.isbn978-83-946253-9-9pl
dc.identifier.isbn978-83-946253-8-2pl
dc.identifier.serieseissn2300-5963
dc.identifier.seriesissn2300-5963
dc.identifier.urihttps://ruj.uj.edu.pl/xmlui/handle/item/52735
dc.languageengpl
dc.language.containerengpl
dc.pubinfoWarszawa : Polskie Towarzystwo Informatycznepl
dc.pubinfoNew York : Institute of Electrical and Electronics Engineerspl
dc.publisher.ministerialInstitute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)pl
dc.rightsDodaję tylko opis bibliograficzny*
dc.rights.licenceOTHER
dc.rights.uri*
dc.share.typeinne
dc.sourceinfoliczba autorów 521; liczba stron 1399; liczba arkuszy wydawniczych 87,4;pl
dc.subtypeConferenceProceedingspl
dc.titleUsing classification for cost reduction of applying mutation testingpl
dc.title.containerProceedings of the 2017 Federated Conference on Computer Science and Information Systemspl
dc.typeBookSectionpl
dspace.entity.typePublication
dc.affiliationpl
Wydział Fizyki, Astronomii i Informatyki Stosowanej : Zakład Projektowania i Grafiki Komputerowej
dc.conferencepl
2017 Federated Conference on Computer Science and Information Systems
dc.conference.city
Praga
dc.conference.country
Czechy
dc.conference.datefinish
2017-09-06
dc.conference.datestart
2017-09-03
dc.conference.indexscopus
true
dc.conference.indexwos
true
dc.contributor.authorpl
Strug, Joanna
dc.contributor.authorpl
Strug, Barbara - 100344
dc.contributor.editorpl
Ganzha, Maria
dc.contributor.editorpl
Maciaszek, Leszek
dc.contributor.editorpl
Paprzycki, Marcin
dc.date.accessioned
2018-03-27T08:33:40Z
dc.date.available
2018-03-27T08:33:40Z
dc.date.issuedpl
2017
dc.date.openaccess
0
dc.description.accesstime
w momencie opublikowania
dc.description.conftypepl
international
dc.description.physicalpl
99-108
dc.description.publicationpl
0,7
dc.description.series
Annals of Computer Science and Information Systems, e
dc.description.seriesnumber
Vol. 11
dc.description.version
ostateczna wersja wydawcy
dc.identifier.doipl
10.15439/2017F215
dc.identifier.eisbnpl
978-83-946253-7-5
dc.identifier.isbnpl
978-83-946253-9-9
dc.identifier.isbnpl
978-83-946253-8-2
dc.identifier.serieseissn
2300-5963
dc.identifier.seriesissn
2300-5963
dc.identifier.uri
https://ruj.uj.edu.pl/xmlui/handle/item/52735
dc.languagepl
eng
dc.language.containerpl
eng
dc.pubinfopl
Warszawa : Polskie Towarzystwo Informatyczne
dc.pubinfopl
New York : Institute of Electrical and Electronics Engineers
dc.publisher.ministerialpl
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
dc.rights*
Dodaję tylko opis bibliograficzny
dc.rights.licence
OTHER
dc.rights.uri*
dc.share.type
inne
dc.sourceinfopl
liczba autorów 521; liczba stron 1399; liczba arkuszy wydawniczych 87,4;
dc.subtypepl
ConferenceProceedings
dc.titlepl
Using classification for cost reduction of applying mutation testing
dc.title.containerpl
Proceedings of the 2017 Federated Conference on Computer Science and Information Systems
dc.typepl
BookSection
dspace.entity.type
Publication
Affiliations

* The migration of download and view statistics prior to the date of April 8, 2024 is in progress.

Views
0
Views per month

No access

No Thumbnail Available