W dniach od 2 kwietnia do 5 kwietnia 2024 r. prowadzone będą prace związane z wdrożeniem nowej wersji systemu Repozytorium UJ. Nie będzie możliwe wprowadzanie nowych informacji do repozytorium. Za utrudnienia przepraszamy.
The results of X-ray diffraction studies on structural changes in the near-surface layers in the NiTi alloy caused by nitrogen-ion implantation with the energy E = 50 keV and the fluence D = 1018 cm-2 are presented. X-ray diffractometry, using the Philips diffractometer type X'Pert in the Bragg-Brentano geometry, was used to identify the phase composition of NiTi alloy. For layer by layer analysis of structural changes in the near-surface layers, the D8 Discover Bruker diffractometer with polycapilar beam optics was used. The ion-implanted NiTi alloy in the near-surface layer exhibits five phases: the dominating austenite phase, two martensitic phases and a small amount of the Ni4Ti3 and NTi phases. Along with the decreasing thickness of the near-surface layer investigated in material an increasing fraction of the Ni4Ti3 and NTi phases was observed. With the thickness of this layer about 340 nm, besides still existing the austenite, Ni4Ti3 and NTi phases, only one martensitic phase is present in the alloy. Further decrease of the thickness of the near-surface layer to about 170 nm leads to the increasing fraction of the Ni4Ti3 and NTi phases.
wydział: instytut / zakład / katedra:
Wydział Chemii : Zakład Krystalochemii i Krystalofizyki
Poza zaznaczonymi wyjątkami, licencja tej pozycji opisana jest jako Udzielam licencji. Uznanie autorstwa - Użycie niekomercyjne - Bez utworów zależnych 4.0 Międzynarodowa