Studies of CuPc ultra-thin layers deposited on Si(111) native substrates

thesis
dc.affiliationWydział Fizyki, Astronomii i Informatyki Stosowanejpl
dc.contributor.advisorSzuber, Jacekpl
dc.contributor.authorKrzywiecki, Maciejpl
dc.contributor.institutionSilesian University of Technology. Faculty of Mathematics and Physics. Institute of Physicspl
dc.contributor.reviewerOrłowski, Bronisławpl
dc.contributor.reviewerSzymoński, Marek - 132296 pl
dc.date.accessioned2017-06-20T10:56:48Z
dc.date.available2017-06-20T10:56:48Z
dc.date.submitted2010-07-07pl
dc.description.additionalDostęp do publikacji jest możliwy w Archiwum UJpl
dc.description.physical153pl
dc.identifier.callnumberDokt. 2010/117pl
dc.identifier.urihttp://ruj.uj.edu.pl/xmlui/handle/item/41644
dc.languageengpl
dc.placeGliwicepl
dc.rightsCopyright*
dc.rights.licenceBez licencji otwartego dostępu
dc.rights.urihttp://ruj.uj.edu.pl/4dspace/License/copyright/licencja_copyright.pdf*
dc.subject.enphotoelectron spectroscopypl
dc.subject.encopper phthalocyaninepl
dc.subject.eninterfacepl
dc.subject.enultra-thin layerspl
dc.subject.enorganic semiconductorspl
dc.subject.plspektroskopia fotoelektronowapl
dc.subject.plftalocyjanina miedzipl
dc.subject.plinterfazapl
dc.subject.plultra-cienkie warstwypl
dc.subject.plpółprzewodniki organicznepl
dc.titleStudies of CuPc ultra-thin layers deposited on Si(111) native substratespl
dc.title.alternativeBadania ultra-cienkich wartw CuPc osadzonych na naturalnym podłożu Si(111)pl
dc.typeThesispl
dspace.entity.typePublication
dc.affiliationpl
Wydział Fizyki, Astronomii i Informatyki Stosowanej
dc.contributor.advisorpl
Szuber, Jacek
dc.contributor.authorpl
Krzywiecki, Maciej
dc.contributor.institutionpl
Silesian University of Technology. Faculty of Mathematics and Physics. Institute of Physics
dc.contributor.reviewerpl
Orłowski, Bronisław
dc.contributor.reviewerpl
Szymoński, Marek - 132296
dc.date.accessioned
2017-06-20T10:56:48Z
dc.date.available
2017-06-20T10:56:48Z
dc.date.submittedpl
2010-07-07
dc.description.additionalpl
Dostęp do publikacji jest możliwy w Archiwum UJ
dc.description.physicalpl
153
dc.identifier.callnumberpl
Dokt. 2010/117
dc.identifier.uri
http://ruj.uj.edu.pl/xmlui/handle/item/41644
dc.languagepl
eng
dc.placepl
Gliwice
dc.rights*
Copyright
dc.rights.licence
Bez licencji otwartego dostępu
dc.rights.uri*
http://ruj.uj.edu.pl/4dspace/License/copyright/licencja_copyright.pdf
dc.subject.enpl
photoelectron spectroscopy
dc.subject.enpl
copper phthalocyanine
dc.subject.enpl
interface
dc.subject.enpl
ultra-thin layers
dc.subject.enpl
organic semiconductors
dc.subject.plpl
spektroskopia fotoelektronowa
dc.subject.plpl
ftalocyjanina miedzi
dc.subject.plpl
interfaza
dc.subject.plpl
ultra-cienkie warstwy
dc.subject.plpl
półprzewodniki organiczne
dc.titlepl
Studies of CuPc ultra-thin layers deposited on Si(111) native substrates
dc.title.alternativepl
Badania ultra-cienkich wartw CuPc osadzonych na naturalnym podłożu Si(111)
dc.typepl
Thesis
dspace.entity.type
Publication
Affiliations

* The migration of download and view statistics prior to the date of April 8, 2024 is in progress.

Views
3
Views per month
Views per city
Hamburg
2