W dniach od 2 kwietnia do 5 kwietnia 2024 r. prowadzone będą prace związane z wdrożeniem nowej wersji systemu Repozytorium UJ. Nie będzie możliwe wprowadzanie nowych informacji do repozytorium. Za utrudnienia przepraszamy.
The present work investigates the possibility of bias introduced in grazing-
incidence-angle X-ray diffraction techniques applied to residual stress
measurements. In these studies, monotextured nanocrystalline nickel coatings
obtained by electrodeposition were examined as the model reference samples.
Selected Ni coatings exhibited well developed and simple gradient-free residual
stress states that were visible using conventional sin
2
measurements with
varying X-ray penetration depths. These results were verified against the stress
state picture obtained by two variants of grazing-incidence X-ray methods:
multi-reflection (different
hkl
) and constant angle of incidence (single
hkl
). The
outcome of both grazing techniques consistently excluded stress gradients in the
samples, which agreed with conventional sin
2
measurement results. However,
only the results of the constant angle of incidence technique agreed with those
obtained by the sin
2
method in terms of calculated residual stress level,
suggesting this approach could be applied in further studies of graded material
coatings. All analysed coatings yielded uniformly distributed tensile residual
stress related to gradual structure development in electrodeposited Ni coatings
studied by electron microscopy techniques
wydział: instytut / zakład / katedra:
Wydział Chemii : Zakład Chemii Nieorganicznej, Wydział Lekarski : Katedra Okulistyki
typ:
artykuł w czasopiśmie
podtyp:
artykuł
punktacja MEiN [2015 A]: 40
Pliki tej pozycji
Plik
Rozmiar
Format
Przeglądanie
Nie ma plików powiązanych z tą pozycją.
Pozycja umieszczona jest w następujących kolekcjach