W dniach od 2 kwietnia do 5 kwietnia 2024 r. prowadzone będą prace związane z wdrożeniem nowej wersji systemu Repozytorium UJ. Nie będzie możliwe wprowadzanie nowych informacji do repozytorium. Za utrudnienia przepraszamy.
Mixed MD simulation – analytical model analysis of Ag(111), C_{60} repetitive bombardment in the context of depth profiling for dynamic SIMS
pl
dc.type
JournalArticle
pl
dc.description.physical
154-157
pl
dc.subject.en
cluster bombardment
pl
dc.subject.en
dynamic SIMS
pl
dc.subject.en
depth profiling
pl
dc.subject.en
molecular dynamics
pl
dc.subject.en
analytical model
pl
dc.description.volume
45
pl
dc.description.number
1
pl
dc.identifier.doi
10.1002/sia.4940
pl
dc.identifier.eissn
1096-9918
pl
dc.title.journal
Surface and Interface Analysis
pl
dc.title.volume
Special issue: Proceedings of the Eighteenth International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry, SIMS XVIII, Riva Del Garda, Trento, Italy, September 18-23, 2011
pl
dc.language.container
eng
pl
dc.affiliation
Wydział Fizyki, Astronomii i Informatyki Stosowanej : Instytut Fizyki im. Mariana Smoluchowskiego
pl
dc.subtype
Article
pl
dc.rights.original
bez licencji
pl
.pointsMNiSW
[2013 A]: 15
Pliki tej pozycji
Plik
Rozmiar
Format
Przeglądanie
Nie ma plików powiązanych z tą pozycją.
Pozycja umieszczona jest w następujących kolekcjach